阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量

　　阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量

　　隨著電子產品的輕薄短小及高速率，高帶寬，5G/6G甚至更高的工作頻率，促使電子元器件的尺寸也變得越來越小，工作頻率也越來越高。這對測試電子元器件的設備要求也要同時能滿足尺寸越來越小和頻率越來越高的要求。阻抗分析儀可以用來在高達3GHz的頻率范圍內測量無源器件的特性，除此之外，工程師們更可以用它來測量小至01005尺寸的 SMD器件的特性。

　　阻抗分析儀具備高度、速度，且經濟型多功能，能夠執行一應俱全的元件測試。可搭配DC Bias機型。人性化操作界面設計同步于國際趨勢，簡單操作快速導入產線。多項參數同時測試只需一次設定，一次同時顯示。高精密值的量測數據與的功效，為元件和材料不可或缺的測試儀器。阻抗分析儀可通過面板的BNC接頭來實現兩端，三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要。

　　阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量，它利用物體具有不同的導電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時，通過阻抗計算出物體的各種器件、設備參數和性能優劣。能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區域內。