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    鐵電材料測(cè)試時(shí)需要注意的一些問(wèn)題

    更新時(shí)間:2024-09-02  |  點(diǎn)擊率:782

     鐵電材料測(cè)試時(shí)需要注意的一些問(wèn)題

    鐵電材料是一種具有鐵電性質(zhì)的材料,在應(yīng)用領(lǐng)域中有著廣泛的用途,比如電容器、傳感器等。由于鐵電性質(zhì)對(duì)材料的電學(xué)性能有著顯著的影響,因此對(duì)鐵電材料的測(cè)試至關(guān)重要。鐵電材料測(cè)試方法主要包括鐵電性能測(cè)試和微觀結(jié)構(gòu)分析。鐵電性能測(cè)試是指測(cè)量材料的鐵電常數(shù)、鐵電疇結(jié)構(gòu)、極化強(qiáng)度等基本性能參數(shù)。常用的測(cè)試方法包括鐵電疇域觀測(cè)、極化-電場(chǎng)曲線測(cè)試以及介電弛豫測(cè)試等。這些測(cè)試方法可以幫助我們了解材料的鐵電性能和特性,為材料的設(shè)計(jì)和應(yīng)用提供重要的參考。

     
      其次,微觀結(jié)構(gòu)分析是對(duì)鐵電材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究,可以通過(guò)掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)等技術(shù)來(lái)觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)。微觀結(jié)構(gòu)分析可以揭示鐵電疇的分布、疇壁的性質(zhì)、晶格缺陷等信息,對(duì)于理解鐵電性能的起源和提高材料性能具有重要意義。
     
      另外,鐵電材料測(cè)試時(shí)需要注意一些問(wèn)題。測(cè)試環(huán)境要保持穩(wěn)定,盡量避免外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。采用合適的測(cè)試方法和儀器,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析,得出科學(xué)的結(jié)論和建議。
     
      鐵電材料在結(jié)構(gòu)上具有以下特別之處:
     
      1.基于晶體結(jié)構(gòu):鐵電材料具有特殊的晶體結(jié)構(gòu),其中離子或分子在空間中呈現(xiàn)出對(duì)稱(chēng)的排列方式。在測(cè)試鐵電材料時(shí),需要考慮其晶體結(jié)構(gòu)對(duì)性能的影響。
     
      2.晶胞尺寸與對(duì)稱(chēng)性:鐵電材料的晶胞尺寸和對(duì)稱(chēng)性對(duì)其性能具有重要影響。通過(guò)測(cè)試鐵電材料的晶胞結(jié)構(gòu),可以更好地理解其物理性質(zhì)和電學(xué)行為。
     
      3.電極配置:鐵電材料在測(cè)試時(shí)需要使用特殊的電極配置,以確保在施加電場(chǎng)時(shí)能夠準(zhǔn)確測(cè)量其極化行為。不同的電極配置會(huì)影響測(cè)試結(jié)果,因此需要選擇合適的電極配置進(jìn)行測(cè)試。
     
      4.溫度和壓力控制:鐵電材料的性能通常受溫度和壓力的影響。在測(cè)試鐵電材料時(shí),需要對(duì)溫度和壓力進(jìn)行精確控制,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
     

      5.表面處理:為了避免測(cè)試中的表面效應(yīng)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生干擾,需要對(duì)鐵電材料進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻嫣幚怼_@包括清潔表面、去除表面氧化物等步驟,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。


    一、產(chǎn)品介紹:

        FE-5000C擴(kuò)展型鐵電性能測(cè)試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測(cè)試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、可測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線鐵電薄膜值。設(shè)備可以擴(kuò)展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門(mén)的重要設(shè)備之一,已經(jīng)在各大高校和科研院所廣泛使用。

    二、主要技術(shù)指標(biāo):

    1、輸出信號(hào)電壓::±5000V(可擴(kuò)展至10 kV

    2、溫度;室溫-260℃,控溫精度:±1

    3、控制施加頻率0.01250KHz(陶瓷、單晶,薄膜)PC端軟件控制自定義設(shè)置

    4、控制輸出電流0到±50mA連續(xù)可調(diào),PC端軟件控制自定義設(shè)置

    5、動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率范圍 0.01Hz-5kHz

    6、疲勞測(cè)試頻率300kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF

    7.測(cè)試速度:測(cè)量時(shí)間《5/樣品•溫度點(diǎn)   

    8. 樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm

    9.主要功能: 動(dòng)態(tài)電滯回線DHM,靜態(tài)電滯回線SHM,I-V特性,脈沖PUND,疲勞Fatigue,電擊穿強(qiáng)度BDM,漏電流LM,電流-偏壓,保持力RM,

    10、控制方式:計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算、分析與存儲(chǔ)

    11、軟件采集:自動(dòng)采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

    12、測(cè)試精度:±0.05%

    13、內(nèi)置電壓:±40V

    可選的模塊:

    印跡印痕IM

    變溫測(cè)試THM

    POM 模塊實(shí)現(xiàn)極化測(cè)量功能

    CVM模塊實(shí)現(xiàn)小信號(hào)電容測(cè)試,獲得C-V曲線

    PZM模塊實(shí)現(xiàn)壓電特性測(cè)試

    DPM模塊測(cè)試介電性能

    RTM模塊測(cè)試電阻/電阻率性能

    CCDM模塊實(shí)現(xiàn)電容充放電測(cè)試


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