描述：高低溫介電測量儀主要應用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

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GDJD-600型高低溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時測試4個樣品）介紹：

關鍵詞：高低溫介電測量儀，高低溫介電測量系統(tǒng)。

高低溫介電測量儀

GWJD-600型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

產品優(yōu)勢：

1.實現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉換測量

2.四通道測試，可以同時測試1-4個樣品，方便快捷

3.數(shù)據分析軟件：提供多種掃描曲線，可以在多窗口之間切換數(shù)據

產品特點：

1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能。

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能。

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質因數(shù)Q，阻抗Z等物理量；以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線，時間和電壓變化的曲線。

4.可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。

高低溫介電測量儀主要技術指標：

測量溫度：-160°C-800°C	升溫斜率：2°C/min
頻率范圍：20-30MHZ	精度：0.05%
測量精度：±0.1°C	控溫精度：±1°C（PID精準控溫）
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好	測試方法：兩線法或四線法
測試通道數(shù)：1-4通道	一次可測樣品數(shù)：1-4個樣品
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸	測量精度：0.05%
AC電平：0V到1Vrms	直流偏壓：0到±40V/100mA
數(shù)據存儲：EXCEL表格等多種格式	加熱方式：電阻絲加熱
真空度范圍：100Pa-1大氣壓	電極材料：鉑金
數(shù)據傳輸：4個USB接口	儀器通訊：USB或GPIB

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