JK-600S高溫電學(xué)探針熱臺(tái)

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探針熱臺(tái)JK-600S是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬(wàn)用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進(jìn)行定制化編程。

1、 可以搭配阻抗分析儀，高阻計(jì)，電化學(xué)工作站，數(shù)字源表進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試

2、 軟件開(kāi)發(fā)可以進(jìn)行高溫介電溫譜測(cè)試、電阻，電阻率測(cè)試，熱電，熱釋電，TSDC等測(cè)量功能。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

溫度范圍：RT~600℃ 

溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

升降溫速度：0~30℃/min

氣密腔室設(shè)計(jì)，可升級(jí)真空

詳細(xì)參數(shù)一覽表：

可進(jìn)行多種電學(xué)功能測(cè)試

1、 高溫介電溫譜測(cè)試

2、 絕緣電阻測(cè)試

3、 四探針電阻率測(cè)試

4、 熱電測(cè)試儀，TSDC熱刺激電流測(cè)試，熱釋電測(cè)試

第一、介電溫譜測(cè)試圖

第二、高溫介電測(cè)試

模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;測(cè)量方式:軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜; 

測(cè)量參數(shù): s介電常數(shù)、 (E'、t"介電常數(shù)實(shí)部與虛部)、C電容、(C'、C"電容實(shí)部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R""電阻實(shí)部與虛部).Z、(Z'、Z"阻抗實(shí)部與虛部)、Y導(dǎo)納、Y.Y"(導(dǎo)納實(shí)部與虛溫度設(shè)置:可設(shè)置升溫速度、降溫速度、最大溫度、測(cè)量等待時(shí)間等;

測(cè)量頻率:軟件可設(shè)置測(cè)試的頻率;

數(shù)據(jù)處理:測(cè)量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;圖像處理:測(cè)量曲線可保存。

                                 高溫介電測(cè)試

第三、測(cè)量曲線（電阻、熱釋電、TSDC測(cè)量)

電阻測(cè)量模式:

1、電阻測(cè)量模式:

2、連續(xù)測(cè)量模式:升降溫連續(xù)采集。2、保持測(cè)量:指達(dá)到溫度后進(jìn)行測(cè)量采集TSDC測(cè)量:

3、通過(guò)液氮進(jìn)行低溫試驗(yàn)。

熱釋電參數(shù)測(cè)試

                           TSDC熱刺激電流測(cè)試

電阻測(cè)試