TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀

關(guān)鍵詞：熱刺激電流，電壓，TSDC,TSD

一、設(shè)備概述：

TSDC-400W新款熱刺激電流測量儀主要適用于在不同溫度下測試材料電阻的試驗(yàn)測量系統(tǒng)，主要測試材料的電阻溫度變化關(guān)系用于測量聚合物的分子運(yùn)動現(xiàn)象與極化電流的關(guān)系，還可以用來測試熱電常數(shù)和介電常數(shù)。符合JIS-K7131測試標(biāo)準(zhǔn)。，是研究材料內(nèi)部空間電荷受激脫阱后的遷移以及衰減規(guī)律、偶極電荷的松弛變化規(guī)律、各種電荷之間的相互作用等的重要工具。其在絕緣材料的老化以及擊穿研究、半導(dǎo)體光電材料及其元器件的開發(fā)、駐極體材料的研究等領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。儀器測試流程自動化實(shí)現(xiàn)和完成，并可以保存和導(dǎo)出試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

二、應(yīng)用

★材料特征測試
★半導(dǎo)體、納米材料、聚合物材料、介質(zhì)材料、電化學(xué)材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機(jī)材料等

★電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試
電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關(guān)、繼電器等

★電子/非電子系統(tǒng)
★離子束、電子束、傳感系統(tǒng)、粒子測量、嵌入式精密儀器等

★半導(dǎo)體和其它器件I-V特性測量

★體電阻/表面電阻率測量

三、產(chǎn)品主要特點(diǎn)：

1、在同一空間內(nèi)可有 2 條通道

2、最寬的電壓和電流動態(tài)范圍

3、高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測試能力

4、嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

5、消除與 PC 之間耗時的總線通信

6、高級數(shù)據(jù)處理和流量控制

7、通用型探頭/處理程序控制

8、系統(tǒng)性能，無主機(jī)

9、TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時所有通道同時獨(dú)立受控。

10、支持 <500 ns 通道間同步

11、可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道

12、隨著測試要求變化輕松重新配置

四、技術(shù)參數(shù)：

1、最小電流分辨率：20pA

2、溫度測量范圍：-160°C-600°C

3、升溫速率：0.5℃--10℃/min

4、電壓量程（DC）：10V/50V/100V/250V/500V/1000V

5、樣品架：自動升降

6、加熱方式：電熱絲

7、制冷方式：液氮

8、導(dǎo)熱制冷介質(zhì)：二甲基硅油（粘度2CS,容量10L）

9、數(shù)據(jù)采集：軟件控制，自動采集，實(shí)時動態(tài)顯示曲線

10、數(shù)據(jù)保存：可導(dǎo)出EXEXL數(shù)據(jù)報(bào)表，生成電子報(bào)告

11、實(shí)驗(yàn)流程：參數(shù)設(shè)定后，整個實(shí)驗(yàn)過程無需人工干預(yù)，自動完成實(shí)驗(yàn)

12、測量電極直徑：10MM

13、設(shè)備重量：100KG

14、加熱功率：1500W

五、軟件介紹：

起始溫度：試驗(yàn)開始溫度，需要設(shè)定，到達(dá)此溫度后，開始做試驗(yàn)

截止溫度：試驗(yàn)結(jié)束溫度，需要設(shè)定，到此溫度后，自動結(jié)束

變溫速率：設(shè)定升溫速率

保持時間：到達(dá)設(shè)定的溫度后，需要保持的時間

坐標(biāo)軸切換：以溫度/時間為坐標(biāo)軸，進(jìn)行切換

驅(qū)動電壓：選擇試驗(yàn)電壓

上升：電極支架上升鍵

下降：電極支架下降鍵

允許外部控制：手動在設(shè)備上進(jìn)行上升和下降，需要在軟件上進(jìn)行授權(quán)