JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)（ε）及損耗測(cè)試儀（tgd）

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)（ε）及損耗測(cè)試儀（tgd）

關(guān)鍵詞：介電常數(shù)（ε），損耗測(cè)試儀（tgd），品質(zhì)因數(shù)(Q)，頻率(f)

       JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)（ε）及損耗測(cè)試儀（tgd）是目前針對(duì)PVDF薄膜材料，是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀。是目前能夠處理的介電常數(shù)（ε）和介損（tgd）的圖譜。GB/T1693-2007主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。主要可以測(cè)量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tgd)和電容量( Cx)以，其測(cè)量線路采用“正接法"即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成，本電橋特別適應(yīng)測(cè)量各類絕緣油和絕緣材料的介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）。

   JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀是一款針對(duì)薄膜測(cè)試的專用設(shè)備，測(cè)試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測(cè)量與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和損耗參數(shù)。

                            薄膜介電常數(shù)（ε）

                     薄膜介損（tgd）圖譜

三電極結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：

微調(diào)千分尺：微調(diào)千分尺具備0.001mm的調(diào)節(jié)精度，可精細(xì)化調(diào)節(jié)上下電極之間的距離。

平行板測(cè)試電極：下電極固定在底部支撐座，上電極可由微調(diào)千分尺調(diào)節(jié)行程距離。上電極帶有保護(hù)電極。

上電極片：上電極標(biāo)配有2mm球頭電極、φ26.8mm圓片電極和φ38mm圓片電極。可根據(jù)樣品大小隨時(shí)更換。

鎖緊裝置：當(dāng)樣品放入上下電極之間后，可調(diào)節(jié)此鎖緊裝置，固定上下電極的調(diào)節(jié)行程。防止輕微移動(dòng)引起的刻度偏差。

嚴(yán)格按照ASTM   D150國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，電極表面鍍金處理，導(dǎo)電性能好、抗氧化，使用壽命更長

一、真正的三電極設(shè)計(jì)

介電夾具基于ASTM D150標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法，采用三電極法設(shè)計(jì)。上電極+下電極+保護(hù)電極，電極表面鍍金處理，導(dǎo)電性能好、抗氧化。為消除測(cè)試連接線阻抗及連接線之間相互耦合對(duì)測(cè)試的影響，儀器與夾具電極連接采用4端對(duì)法。

得益于測(cè)試線纜和電極引線的良好屏蔽，屏蔽層直達(dá)測(cè)試電，因此獲得更高的校準(zhǔn)頻率。

2.校準(zhǔn)頻率最高可達(dá)100MHz

適配的阻抗分析儀更加豐富，充分利用測(cè)試儀器的測(cè)試頻率范圍（20Hz-120MHz），以滿足測(cè)試樣品對(duì)更高頻率的要求。

3.高精度調(diào)節(jié)行程

適配高精度微調(diào)千分尺，可調(diào)精度為0.001mm，

上電極可調(diào)行程為12mm，并帶有鎖緊裝置，可有效鎖定當(dāng)前刻度位置，確保測(cè)試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

標(biāo)配26.8/38mm尺寸電極片，可滿足不同尺寸樣品測(cè)量，樣品安裝方便、簡(jiǎn)單

主要技術(shù)參數(shù)：

1、測(cè)試頻率：DC~100MHz

2、樣品要求：雙面涂覆電極，保持平整、光滑

3、樣品尺寸：2mm≤φ≤60mm，厚度≤10mm

4、電極圓片：無。有效面積：樣品上下涂覆電極垂直重疊部分面積

5、誤差分析：存在邊緣電容，樣品表面凹陷處被導(dǎo)電體填充

6、測(cè)試接口：4個(gè)SMA母頭

7、上電極：φ2mm球頭電極+φ26.8mm圓片電極+φ38mm圓片電極

8、保護(hù)電極：上電極帶保護(hù)電極，電極表面鍍金

9、上電極壓力調(diào)節(jié)：12mm行程調(diào)節(jié)，用于上電極與樣品良好的電性能接觸

10、帶電極樣品尺寸：2mm≤φ≤60mm，厚度≤10m

11、設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D150和D2149-97國際標(biāo)準(zhǔn)，GB/T1409-2006國家標(biāo)準(zhǔn)

12、電極結(jié)構(gòu)：兩平行板電極+保護(hù)電極，三電極結(jié)構(gòu)

13、電極引線：同軸屏蔽線，消除電磁干擾對(duì)測(cè)試影響

14、下電極：φ60mm鍍金圓片電極

15、上電極行程調(diào)節(jié)：12mm行程調(diào)節(jié)，用于樣品安裝

16、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：數(shù)據(jù)庫保存各類實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，同時(shí)輸出TXT、XLS、BMP等格式文件，對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)提供豐富的查詢與分析，輸出圖形與數(shù)據(jù)。