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GLRT-600型高低溫探針臺
GLRT-600型高低溫探針臺根據制冷方式分為液氮制冷和GM制冷機兩種，溫度范圍從-260℃度到600℃C可控。產品兼容低至1pA的直流信號，50GHz的高頻信號以及1KV的高壓信號；顯微鏡、探針、變...
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BLRT-600型背面探針型冷熱臺
BLRT-600型背面探針型冷熱臺適合電極在樣品背面的情況，探針可耐受高低溫環境重復使用。上部觀察窗口離樣品距離較遠，不需要進行氣體吹掃來防止窗口表面結露。提供外部接線盒，用于信號切換，結合外部的濕度...
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ZLRT-600型正面探針型冷熱臺
ZLRT-600型正面探針型冷熱臺適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況，測試探針可前后伸縮和自由轉動，因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況，可選擇不同材質和觸點形狀的探針。配套：A2505(...
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CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺
CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺采用高溫加熱元件，可以在1200℃下長期穩定使用；采用高溫陶瓷固定探針臂，保證高溫下探針穩定可靠；可增加一路溫度信號，用于和其它測試軟件結合；配套：A2505(...
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1600℃絕緣材料超高溫電阻率測試儀
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2&...
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精科智創PVDF薄膜材料鐵電測試儀
本測試系統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺（配鐵電測試盒）或高低溫探針臺（配高壓探針）、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器...
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無鉛壓電陶瓷D33測試儀
ZJ-3型壓電測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料,PVDF薄膜壓樣品。ZJ-4擴展...
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一體化DHM動態電滯回線鐵電測試儀
FE-5000W型電致應變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值...
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GFQLR-200半導體制冷積分球冷熱臺
GFQLR-200半導體制冷積分球冷熱臺半導體制冷原理的冷熱臺，體積小變溫速度快，直接貼附在積分球上使用。可適用于透射和反射情況。散熱可選擇水冷和風冷方式。附件:可另外增加一路樣品溫度采集
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GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺
GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺光纖光譜儀可用于變溫的光學投射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發后的光學測量。溫控軟件可集成溫度和光譜數據，并實時顯示和保存。
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GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺
GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺體積小巧、溫度范圍廣。 內部可以增加最多四個電學探針，可實現在光學測量的同時可進行電信號測量。 可以增加側面支架和氣氛接頭，使用非常靈活。
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BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺
BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料
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