JK-600CH190P4D型外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)

JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)： 結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測(cè)試 最大溫度范圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設(shè)計(jì)，可通保護(hù)氣體 多探針測(cè)試 上位機(jī)軟件控制 支持改動(dòng)或定制

JK-600CH190P8型常規(guī)探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。

光學(xué)冷熱臺(tái)JK-GH600-190是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。

JK-600CHG2190型光學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。根據(jù)需要，還可以選型光反射或光透射模式。 產(chǎn)品需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機(jī)

光學(xué)冷熱臺(tái)JK-GH600-190是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。